六轴全自动光电器件测试系统
来源: | 作者:佚名 | 发布时间: 2025-03-12 | 74 次浏览 | 分享到:

全自动光电耦合

电学激励测试能力

全自动六轴耦合控制

自定义耦合方式

支持多种DUT(材料/器件/光纤)

支持外部DC/AC/optical

支持真空吸附和自定义夹具

支持probe和标准接口

支持DC200V,1A输入(可接受定制3000V,100A)

支持射频频率高达100Ghz支持IV/CV/PI/IT等测试

支持100G/400G/800G电时域、频域测试支持电矢量网络测试

光学激励测试能力

三温环境模拟

支持185-8000nm 光激励(非连续,可选)

支持光功率/光强度/光谱/光能量效率测试

支持插损/回损/相位/偏振/消光比测试等

支持光器件/光通信指标测试

支持常温态测试

支持高达600高温测试支持低温-60测试

全开放源代码

持续的测试能力全兼容

基于C语言的全自主开发代码

免费开放并支持客户自定义开发

持续的测试能力全兼容

持续开发的全自主测试模块

持续兼容的主流测试能力

(Tektronix/Keithley/rs/Keysight/Anritsu/Femto/Femto/Nl/0PHIR/LUNA/SRS)