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Keithley S500 自动参数测试系统

半导体材料测试

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型　　号：S500名　　称：自动参数测试系统品　　牌：吉时利(Keithley)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 半导体参数分析仪产品属性：主机产品状态：停产简　　述：S500自动参数测试系统基于吉时利公司的高性能源表及电测技术，可完成各种直流、交流信号测试，可广泛用于半导体工艺制程的过程监控、重复性监控及器件检测领域。
Keithley PCT 参数分析系统配置

半导体材料测试

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型　　号：PCT名　　称：参数分析系统配置品　　牌：吉时利(Keithley)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 半导体参数分析仪产品属性：主机简　　述：吉時利的參數分析系统配置是功率器件特性分析的完整分析方案，包括高质量仪器、电缆、测试夹具和软件。提供7种配置，每种配置都具有快速检查器件基本参数（例如击穿电压）的实时跟踪模式和提取精密器件参数的完全参数模式。
森美协尔 M系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：M系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：如果您的测试PAD大于30μm，M系列则是您在实验室中的优选设备之一。
森美协尔 E系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：E系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：E系列是一款功能进阶级探针台，能实现1μm以上的电极Pad测试，可通过较低的成本升级更多的测试功能。
森美协尔 H系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：H系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：SEMISHARE研发的卡盘移动技术，可满足您对整片晶圆快速测试的需求，H系列探针台非常适合研发类实验室的一次性预算购置。
森美协尔 FA系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：FA系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备，具光学特性、激光特性，设备结构稳定，系统性能优异，支持多功能升级，产品功能丰富齐全。
森美协尔 C系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：C系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：C系列探针台通过增加屏蔽腔体的结构可实现无电磁干扰 (EMI) /射频干扰 (RFI)和不透光的测量环境，可在非真空条件下实现高低温测试需求。
森美协尔 CG系列真空高低温探针台

半导体材料测试

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型　　号：CG系列名　　称：真空高低温探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：CG系列探针台可提供在超高真空与高低温转换的环境下，实现对器件及材料表征的IV/CV特性测试、射频测试、光电测试、电磁输运特性及霍尔效应等测试。通过设置真空腔、防辐射屏等结构，能够有效的营造一个集成高温、低温、真空等测试环境，能够为生产出来的半导体器件提供稳定的测试环境。
森美协尔 X系列半自动探针台

半导体材料测试

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型　　号：X系列名　　称：半自动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：X系列是一款专业应对各类先进芯片性能测试的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。
同惠 TH510系列半导体器件C-V特性测试仪

半导体材料测试

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型　　号：TH510系列名　　称：半导体器件C-V特性测试仪品　　牌：同惠(Tonghui)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 半导体参数分析仪产品属性：主机简　　述：TH510系列半导体C-V特性分析仪创新性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术，适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。TH510系列半导体C-V特性分析仪测试频率为10kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，足以满足二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体件CV特性测试分析。
Keithley 2600-PCT-xB 大功率半导体器件测试系统

半导体材料测试

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型　　号：2600-PCT-xB名　　称：大功率半导体器件测试系统品　　牌：吉时利(Keithley)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 半导体参数分析仪产品属性：主机简　　述：2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统可以提供高达10kV或100A的电流、电压测试范围，可完美匹配目前的大功率半导体器件测试对大电压和大电流的要求，通过增加选件也可实现高压交流信号测试，最大电压可达3kV。
Keithley 4200A-SCS 半导体特性分析系统

半导体材料测试

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型　　号：4200A-SCS名　　称：半导体特性分析系统品　　牌：吉时利(Keithley)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 半导体参数分析仪产品属性：主机简　　述：4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能。
KEYSIGHT B1500A 半导体器件参数分析仪

半导体材料测试

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型　　号：B1500A名　　称：半导体器件参数分析仪品　　牌：是德(KEYSIGHT)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 半导体参数分析仪产品属性：主机简　　述：Keysight B1500A半导体参数分析仪是一款多功能的设备特性分析仪，支持IV，CV，脉冲/动态IV等。大型机和插入式模块可表征大多数电子设备以及材料，半导体和有源/无源组件。 B1500A模块化体系结构使您可以根据需要灵活地进行升级。

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