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X330A半导体参数分析仪

半导体参数分析仪

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X330A是一款专为半导体材料/器件而开发的全面的，多功能的参数分析仪。可以实现电流电压（I-V），时间电流（I-T），电容电压（C-V）等测试测量功能。作为全功能的半导体电学测试设备，在半导体、材料和工艺开发中，提供准确和快速的数据保障工作。
加速科技 ST7008-B 蓝牙自动化测试仪

半导体芯片测试

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型　　号：ST7008-B名　　称：蓝牙自动化测试仪品　　牌：加速科技(SPEEDCURY)分　　类：半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机产品属性：主机简　　述：一款基于蓝牙标准SIG认证的自动化测试设备，用于蓝牙芯片的自动化测试。ST7008支持3GPP TS38.521 Release 15/16 版本、Sub-6GHz 多域并行测试，拥有信号接收、频率测试分析等功能，测试准确度高且操作便利。搭配ST2500/ST5000 系列产品可提供 RF/Digital 全方位 ATE 测试解决方案。多通道灵活配置，单表支持8部终端在线测试。
加速科技 ST5000系列高性能数字混合信号测试系统

半导体芯片测试

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型　　号：ST5000系列名　　称：高性能数字混合信号测试系统品　　牌：加速科技(SPEEDCURY)分　　类：半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机产品属性：主机简　　述：为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求，加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品，最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式，兼容Jtype针卡，较大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard，可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性，为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。
日置 FA1811 飞针测试机

半导体芯片测试

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型　　号：FA1811名　　称：飞针测试机品　　牌：日置(HIOKI)分　　类：半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机产品属性：主机简　　述：10μm高精度接触和高速测试。改变封装电路板测试。提高分析效率与检查速度，降低测试成本，满足现场的测试需求。
日置 FA1813 飞针测试机

半导体芯片测试

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型　　号：FA1813名　　称：飞针测试机品　　牌：日置(HIOKI)分　　类：半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机产品属性：主机简　　述：可精准探测高密度封装基板上的微小焊盘。
日置 FA1220 系列在线测试机

半导体芯片测试

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型　　号：FA1220 系列名　　称：在线测试机品　　牌：日置(HIOKI)分　　类：半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机产品属性：主机简　　述：提高生产效率。保证产品质量。贴装线路板测试系统。
KEYSIGHT N4373E 光波器件分析仪

半导体芯片测试

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型　　号：N4373E名　　称：光波器件分析仪品　　牌：是德(KEYSIGHT)分　　类：半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机产品属性：主机简　　述：N4373E 具有 67 GHz 频率范围和卓越的测量准确度，是在 40 Gb/s 传输系统、光纤无线电（RoF）应用中测量电光元器件的理想解决方案。
加速科技 ST2500系列高性能数模混合信号测试系统

半导体芯片测试

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型　　号：ST2500系列名　　称：高性能数模混合信号测试系统品　　牌：加速科技(SPEEDCURY)分　　类：半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机产品属性：主机简　　述：ST2500系列高性能数字混合信号测试系统支持250Mbps数据传输，125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联，实现32~1280数字通道灵活组合配置，实现较高机器利用率。系统业务板采用all-in-one模式（单板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8），对于小型芯片测试应用，具有极高的成本优势。
Keithley S500 自动参数测试系统

半导体材料测试

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型　　号：S500名　　称：自动参数测试系统品　　牌：吉时利(Keithley)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 半导体参数分析仪产品属性：主机产品状态：停产简　　述：S500自动参数测试系统基于吉时利公司的高性能源表及电测技术，可完成各种直流、交流信号测试，可广泛用于半导体工艺制程的过程监控、重复性监控及器件检测领域。
Keithley PCT 参数分析系统配置

半导体材料测试

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型　　号：PCT名　　称：参数分析系统配置品　　牌：吉时利(Keithley)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 半导体参数分析仪产品属性：主机简　　述：吉時利的參數分析系统配置是功率器件特性分析的完整分析方案，包括高质量仪器、电缆、测试夹具和软件。提供7种配置，每种配置都具有快速检查器件基本参数（例如击穿电压）的实时跟踪模式和提取精密器件参数的完全参数模式。
森美协尔 M系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：M系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：如果您的测试PAD大于30μm，M系列则是您在实验室中的优选设备之一。
森美协尔 E系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：E系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：E系列是一款功能进阶级探针台，能实现1μm以上的电极Pad测试，可通过较低的成本升级更多的测试功能。
森美协尔 H系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：H系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：SEMISHARE研发的卡盘移动技术，可满足您对整片晶圆快速测试的需求，H系列探针台非常适合研发类实验室的一次性预算购置。
森美协尔 FA系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：FA系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备，具光学特性、激光特性，设备结构稳定，系统性能优异，支持多功能升级，产品功能丰富齐全。
森美协尔 C系列手动探针台

半导体材料测试

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型　　号：C系列名　　称：手动探针台品　　牌：森美协尔(SEMISHARE)分　　类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台产品属性：主机简　　述：C系列探针台通过增加屏蔽腔体的结构可实现无电磁干扰 (EMI) /射频干扰 (RFI)和不透光的测量环境，可在非真空条件下实现高低温测试需求。

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